全功能RAM分析測試儀

產(chǎn)品型號： IST6500

所屬分類：集成電路測試儀

產(chǎn)品時間：2024-05-07

簡要描述：具有Sorting功能，可將從ATE中淘汰下來的DRAM(含任何封裝形式)，自動作內(nèi)部從新組合(將損壞部份之I／O線路Disable)，即可再使用。

詳細說明：

產(chǎn)品特點：
·具有Sorting功能，可將從ATE中淘汰下來的DRAM（含任何封裝形式），
自動作內(nèi)部從新組合（將損壞部份之I／O線路Disable），即可再使
用。
·內(nèi)建有可設(shè)定的動態(tài)負載（dynamicloading）及雙臨界值、超快速之比
較器，對于測試中常須驅(qū)動資科匯流排上高電容及低電阻負載時，相
當有用。
·提供基本型、加強型、快檢型及自行定義型的測試圓形
（testpatterm）。
·對工作電流（1ccl），備用電流（1cc2）及資料保持電流（1dr）提供了精
確的量測及GO／NOGO測試。廣大的測試范圍之種類：記憶容量范圍從
4K x 1-l6Mx1，1K x 4-4M x 4，2K x 8-512K x8。SIMM之腳數(shù)有
30pin，64pin，72pin，200pin。適用封裝方式
DIP.ZIP.SOJ.SIP.PLCC及TSOP。
·DRAM的動態(tài)參數(shù)Trad.Trcd（解析度為1ns）及刷新間隔*可依電路的
要求來設(shè)定，此實時的功能測試，避免了在儀器上測誠是好的，但實
際在工作中卻是壞的困擾。
·主機采用插入式模塊設(shè)計，可隨時做功能提升
·對DRAM、SIMM．SRAM及PCMCIA卡提供實時的功能分析測試。
·具有2ns解析度及多種測量模式的精準存取時間量測（Tace．Taa，
Trac，Tcac）。
·使用DMA及高速硬體測試電路，大量降低測試時間。

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